ZEISS METROTOM 1 的 CT 技術(shù)便捷，用戶僅需一次掃描即可有效完成復(fù)雜的測量與檢測任務(wù)，從而對接觸式和光學(xué)測量系統(tǒng)無法檢測到的隱蔽缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行測量、分析及檢測。